تجزیه ی مقادیر کم با وضوح فضایی بالا به کمک طیف سنجی جرمی یون ثانویه(SIMS) ترکیب شده با آشکارساز طیف سنجی جرمی با شتاب دهنده ی تک مرحله ای (SSAMS) کوپل SIMS-SSAMS

قیمت: 45,000 تومان

دانلود رایگان مقاله

خرید ترجمه مقاله

عنوان فارسی

تجزیه ی مقادیر کم با وضوح فضایی بالا به کمک طیف سنجی جرمی یون ثانویه(SIMS) ترکیب شده با آشکارساز طیف سنجی جرمی با شتاب دهنده ی تک مرحله ای (SSAMS) کوپل SIMS-SSAMS

عنوان لاتین

Enhanced spatially-resolved trace analysis using combined SIMS–singlestage AMS

طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS) برای مواد جامد امکان تجزیه ی مقادیر کم با وضوح فضایی بالا را فراهم می کند ولی با حضور ایزوبارهای مولکولی فراوان تفکیک نشده، طیف جرمی می تواند شکل پیچیده تری به خود بگیرد. با اضافه کردن طیف سنجی جرمی با شتاب دهنده ی تک مرحله ای 300-kV بعنوان آشکارساز (دتکتور) به طیف سنج جرمی یون ثانویه مدل Cameca ims 4f SIMS ، می توان در حین حذف ایزوبارهای مولکولی، یون های مثبت خروجی از SIMS با فراوانی بالا را، اندازه گیری کرد و درنهایت قدرت تفکیک پیک های با فراوانی کم مربوط به عنصر یا جزء ناچیز و آنالیز ایزوتوپ را در طیف جرمی بهبود بخشید و پیک های اجزای ناچیز را در طیف، جداسازی کرد. در این کارپژوهشی جنبه های مهم و توانمندی هایی نظیر سیستم یکپارچه در آزمایشگاه تحقیقاتی دریایی با استفاده از یون های با حالت اکسایش +1 توصیف می شود. همانطور که سرعت جریان گاز به سل تخریب مولکول افزایش می یابد، کاهش عبور با تخریب مولکول مقایسه می شود. در بسیاری از اندازه گیری هایی که می توانند حساسیت های با فراوانی متوسط را نسبت به 14C تحمل کنند، سرعت های کمتر جریان گاز قابل پذیرش می باشند، بنابراین، برای یون های موردنظر، میزان عبور 20–50% را می توان برای دامنه ی وسیعی از یون های جرمی، ثابت نگه داشت. این ابزار تازه توانایی اندازه گیری نسبت های ایزوتوپی را برای اورانیوم، سرب، خاک های نادر و سایر عناصر از ذرات و مناطق محلی داراست. با تخریب مولکول، امکان اندازه گیری و تهیه ی طیف SIMS در قدرت تفکیک جرمی پایین (low SIMS mass resolving power) و در نتیجه میزان عبور بالا فراهم می شود ، همانطور که در مثال های زیر مشاهده می شود. این دستگاه جدید و بی نظیر در جهان، توانمندی های بهبود یافته ای را برای استفاده در صنایع هسته ای و سایر کاربردهای مربوطه در پزشکی قانونی، ژئوشیمی، کیهان شیمی و توسعه ی مواد اپتیکی، الکترونی، چند منظوری و مواد ساختاری به ارمغان می آورد.

Secondary ion mass spectrometry (SIMS) provides spatially resolved trace analysis of solid materials, but can be complicated by unresolved abundant molecular isobars. By adding a 300-kV single-stage accelerator mass spectrometer (SSAMS) as a detector for a Cameca ims 4f SIMS, one can measure more abundant positive ions from the SIMS while removing molecular isobars, thus improving very low abundance trace element and isotope analysis. This paper describes important features and capabilities of such an integrated system at the Naval Research Laboratory using charge state +1 ions. Transmission loss is compared to molecule destruction as gas flow to the molecule-destruction cell increases. As most measurements tolerate more modest abundance sensitivities than for 14C analysis, a lower gas flow is acceptable, so good transmission of 20–50% for ions of interest can be maintained for a broad range of ion masses. This new instrument has measured isotope ratios for uranium, lead, rare earths, and other elements from particulates and localized regions, with molecule destruction enabling the measurement at low SIMS mass resolving power and thus high transmission, as examples will show. This new and world-unique instrument provides improved capabilities for applications in nuclear and other forensics, geochemistry, cosmochemistry, and the development of optical, electronic, multifunctional, and structural materials.