تصویربرداری با وضوح بالا، با توان بالا توسط یک میکروسکوپ الکترونی روبشی چندپرتویی
High-resolution, high-throughput imaging with a multibeam scanning electron microscope
مشخصات کلی
| سال انتشار | 2015 |
| کد مقاله | 2594 |
| فرمت فایل ترجمه | Word |
| تعداد صفحات ترجمه | 9 |
| نام مجله | Journal of Microscopy |
| نشریه | فاقد منبع |
| درج جداول و شکل ها در ترجمه | انجام شده است |
| جداول داخل مقاله | ترجمه شده است |
چکیده فارسی
تعامل الکترون-الکترون و پهنای باند آشکارساز حداکثر سرعت تصویربرداری میکروسکوپ الکترونی روبشی تک پرتو را محدود می کند. ما از پرتوهای الکترونی های متعدد در یک ستون و تشخیص الکترونهای ثانویه به صورت موازی برای افزایش سرعت تصویربرداری با نزدیک شدن به دو ترتیب از بزرگنمایی و تصویر برداری برای انواع نمونه اعم از بافت های بیولوژیک مغز تا وافرهای نیمه هادی؛ استفاده میکنیم.
چکیده لاتین
Electron–electron interactions and detector bandwidth limit the maximal imaging speed of single-beam scanning electron microscopes. We use multiple electron beams in a single column and detect secondary electrons in parallel to increase the imaging speed by close to twoorders of magnitude and demonstrate imaging for a variety of samples ranging from biological brain tissue to semiconductor wafers.
خرید و دانلود ترجمه این مقاله:
جهت خرید این مقاله ابتدا روی لینک زیر کلیک کنید، به صفحه ای وارد می شوید که باید نام و ایمیل خود را وارد کنید و پس از آن روی دکمه خرید و پرداخت کلیک نمایید، پس از پرداخت بلافاصله به سایت بازگشته و می توانید فایل خود را دانلود کنید، همچنین لینک دانلود به ایمیل شما نیز ارسال خواهد شد.
هیچ دیدگاهی برای این مقاله ثبت نشده است
دیدگاه ها